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高壓閃絡(luò )測量法的工作原理：

        就大部分故障本質(zhì)來(lái)說(shuō)，基本都屬于絕緣體的損壞。高阻故障是由于絕緣介質(zhì)的抗電強度下降所致。因為故障點(diǎn)的阻值高，測量電流小，所以即使用足夠靈敏的儀表也難以測量。對于脈沖法，由于故障點(diǎn)等效阻抗幾乎等于電纜特性阻抗，所以反射系數幾乎等于零，因得不到反射脈沖而無(wú)法測量。

但從介質(zhì)的電擊穿現象出發(fā)，只要對電纜加足夠高的電壓（當然低于最高試驗電壓），故障點(diǎn)就會(huì )發(fā)生擊穿現象。在擊穿的瞬間，故障點(diǎn)被放電電弧短路，所以在故障點(diǎn)放電前后，就產(chǎn)生電壓的躍變。由于介質(zhì)擊穿，其電離過(guò)程需要一定的時(shí)間，而弧光放電一般要持續數百微秒到幾個(gè)毫秒，因此躍變

電壓在放電期間就以波的形式在故障點(diǎn)和電纜端頭之間來(lái)回反射。如果在電纜的端頭（始端或終端），把瞬間躍變電壓及來(lái)回反射的波形記錄下來(lái)，便可測量出電波來(lái)回反射的時(shí)間；再根據電波在電纜中的傳播速度，就可以算出故障點(diǎn)到端頭的距離。基于這個(gè)物理機理產(chǎn)生了閃絡(luò )測試法。